반도체 소자·공정·테스트
ECE-03-M08 · 모듈 08
yield와 test-time
yield와 test-time의 원리와 작업 절차를 설명하고 실행 또는 측정 증거로 검증한다.
학습 단계
모듈 학습
결과물 기준
test-programwafer-mapyield-analysisfailure-hypothesis
ECE-03-M08 · 모듈 08
yield와 test-time의 원리와 작업 절차를 설명하고 실행 또는 측정 증거로 검증한다.
학습 단계
결과물 기준